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30
2022
-
09
我國測試測量儀器在觀點(diǎn)、技術(shù)上存在的挑戰(zhàn)（二）
作者：
圖 / 攝圖網(wǎng)；文 / 網(wǎng)絡(luò)
測試儀器企業(yè)在觀點(diǎn)上也進(jìn)行改變，不應(yīng)該過分追求短期利益，造成研發(fā)資源的重復(fù)浪費(fèi)，而且將行業(yè)的服務(wù)觀念提升上去。良好的市場培育、售后服務(wù)和技術(shù)支持是成功必不可少的要素，而我國企業(yè)的服務(wù)意識更是有待提升。
我國測試儀器在技術(shù)上存在的不足，導(dǎo)致產(chǎn)品總是依靠進(jìn)口。我國在總線技術(shù)上與國外有較大差距，無論是GPIB、VXI還是PXI、LXI、AXIe總線等，都是國外定義研究，我們只能在它們定義的測試系統(tǒng)架構(gòu)及測試方法上進(jìn)行應(yīng)用。此外，我國在臺式測試儀器的具體的功能定義和產(chǎn)品的功能實(shí)現(xiàn)等方面還存在著不足。由于核心半導(dǎo)體器件的缺失我國測試儀器發(fā)展受到了限制，芯片研發(fā)能力十分重要，這也是我國迎頭趕上的方面，才能推動(dòng)我國測試測量儀器的發(fā)展。
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